Control de procesos mediante tecnologías de diagnóstico isotópico

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Celso Vargas-Elizondo
Óscar Chaverri-Quirós
Bruno Chinè-Polito
Mario A. Conejo-Solís

Abstract

La cooperación con el Organismo Internacional de la Energía Atómica (OIEA) ha sido fundamental en nuestra institución para promover el uso pacífico
de la tecnología nuclear, especialmente en las aplicaciones industriales. Este año se cumplen 17 años de cooperación permanente entre dicho organismo y la Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales. Desde el 2003 y hasta el 2005, ha estado en desarrollo un proyecto de dotación de capacidad, orientado a la formación de profesionales y equipamiento para la utilización de dos importantes tecnologías de diagnóstico isotópico. La primera de ellas, la tecnología de trazadores, explota las propiedades únicas que presentan distintos isótopos radiactivos como fuentes abiertas. La segunda, conocida como escaneo o perfilaje gamma, utiliza fuente selladas, de la misma naturaleza que las anteriores, para obtener perfiles en diferentes procesos y determinar así su condición interna y funcionamiento. Ambas tecnologías utilizan isótopos de muy baja actividad y energía, lo que hace que su utilización sea bastante segura desde el punto de vista del personal, ocupacionalmente expuesto, y del ambiente. Los sistemas de detección con los que actualmente se cuenta tienen
una gran versatilidad y sensibilidad que pueden detectar trazas o cuentas
del orden de partes por millón. Esto permite la utilización de cantidades muy pequeñas del isótopo, lo cual hace aún más fácil y segura su manipulación. El objetivo de este artículo es presentar ambas tecnologías, sus beneficios y, por supuesto, promover su utilización en el país. En la primera sección, introducimos la tecnología de trazadores y, en la segunda, el perfilaje gamma.

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How to Cite
Vargas-Elizondo, C., Chaverri-Quirós, Óscar, Chinè-Polito, B., & Conejo-Solís, M. A. (2005). Control de procesos mediante tecnologías de diagnóstico isotópico. Tecnología En Marcha Journal, 18(2), pág. 107. Retrieved from https://revistas.tec.ac.cr/index.php/tec_marcha/article/view/217
Section
Artículo científico
Author Biography

Óscar Chaverri-Quirós

Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales, Instituto Tecnológico de Costa Rica, Costa Rica.

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