Salazar-Jiménez, José Alberto. «Caracterización Del Material De Interfaz Térmica (TIM) De Un Microprocesador». Revista Tecnología en Marcha 26, no. 4 (diciembre 1, 2013): pág. 36–41. Accedido julio 22, 2024. https://revistas.tec.ac.cr/index.php/tec_marcha/article/view/1579.